二氧化钌Xrd特征峰

二氧化钌（Ruthenium dioxide）的X射线衍射（XRD）图谱通常具有如下特征峰：

1. 在2θ角度为29.3°处出现强烈的峰，对应(110)晶面的反射。

2. 在2θ角度为34.5°处出现较强的峰，对应(101)晶面的反射。

3. 在2θ角度为39.6°处出现一定强度的峰，对应(211)晶面的反射。

4. 在2θ角度为59.2°处出现较强的峰，对应(301)晶面的反射。

需要注意的是，不同样品制备方法、纯度和结晶度等因素可能会导致特征峰的位置和强度发生变化。因此，确定二氧化钌样品的物相纯度和结晶度非常重要，可以通过对比已知的标准XRD图谱来进行表征和分析。